> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: Analytic line fitting in the presence of uniform random noise Beteiligte: Netanyahu, Nathan S.; Weiss, Isaac Erschienen: Elsevier BV, 2001 Erschienen in: Pattern Recognition Sprache: Englisch DOI: 10.1016/s0031-3203(00)00026-1 ISSN: 0031-3203 Schlagwörter: Artificial Intelligence ; Computer Vision and Pattern Recognition ; Signal Processing ; Software Entstehung: Anmerkungen: