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Ghibaudo, G.; Riess, P.; Bruyère, S.; DeSalvo, B.; Jahan, C.; Scarpa, A.; Pananakakis, G.; Vincent, E.

Emerging oxide degradation mechanisms: Stress induced leakage current (SILC) and quasi-breakdown (QB)

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  • Medientyp: E-Artikel
  • Titel: Emerging oxide degradation mechanisms: Stress induced leakage current (SILC) and quasi-breakdown (QB)
  • Beteiligte: Ghibaudo, G.; Riess, P.; Bruyère, S.; DeSalvo, B.; Jahan, C.; Scarpa, A.; Pananakakis, G.; Vincent, E.
  • Erschienen: Elsevier BV, 1999
  • Erschienen in: Microelectronic Engineering
  • Sprache: Englisch
  • DOI: 10.1016/s0167-9317(99)00428-1
  • ISSN: 0167-9317
  • Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Surfaces, Coatings and Films ; Condensed Matter Physics ; Atomic and Molecular Physics, and Optics ; Electronic, Optical and Magnetic Materials
  • Entstehung:
  • Anmerkungen: