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Medientyp: E-Artikel Titel: AES analysis of failures in Cu based electromigration test samples Beteiligte: Baunack, S.; Kötter, T.G.; Wendrock, H.; Wetzig, K. Erschienen: Elsevier BV, 2001 Erschienen in: Applied Surface Science Sprache: Englisch DOI: 10.1016/s0169-4332(01)00287-2 ISSN: 0169-4332 Schlagwörter: Surfaces, Coatings and Films ; Condensed Matter Physics ; Surfaces and Interfaces ; General Physics and Astronomy ; General Chemistry Entstehung: Anmerkungen: