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Medientyp: E-Artikel Titel: Modeling of the surface roughness of thin TiSi2 films at the point of rupture Beteiligte: Amorsolo, Alberto V.; Funkenbusch, Paul D.; Kadin, Alan M. Erschienen: Elsevier BV, 1999 Erschienen in: Materials Science and Engineering: B Sprache: Englisch DOI: 10.1016/s0921-5107(98)00321-3 ISSN: 0921-5107 Schlagwörter: Mechanical Engineering ; Mechanics of Materials ; Condensed Matter Physics ; General Materials Science Entstehung: Anmerkungen: