Refractive Index Measurements of Films with Biaxial Symmetry. 2. Determination of Film Thickness and Refractive Indices Using Polarized Transmission Spectra in the Transparent Wavelength Range

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Medientyp: E-Artikel
Titel: Refractive Index Measurements of Films with Biaxial Symmetry. 2. Determination of Film Thickness and Refractive Indices Using Polarized Transmission Spectra in the Transparent Wavelength Range
Beteiligte: Diao, Jie; Hess, Dennis W.
Erschienen: American Chemical Society (ACS), 2005
Erschienen in: The Journal of Physical Chemistry B
Sprache: Englisch
DOI: 10.1021/jp0462761
ISSN: 1520-6106; 1520-5207
Schlagwörter: Materials Chemistry ; Surfaces, Coatings and Films ; Physical and Theoretical Chemistry
Entstehung:
Anmerkungen: