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Medientyp: E-Artikel Titel: Comparison of Scanning Ion Conductance Microscopy with Atomic Force Microscopy for Cell Imaging Beteiligte: Rheinlaender, Johannes; Geisse, Nicholas A.; Proksch, Roger; Schäffer, Tilman E. Erschienen: American Chemical Society (ACS), 2011 Erschienen in: Langmuir Sprache: Englisch DOI: 10.1021/la103275y ISSN: 0743-7463; 1520-5827 Entstehung: Anmerkungen: