Regis, C.;
Abe, K.;
Hayato, Y.;
Iyogi, K.;
Kameda, J.;
Koshio, Y.;
Marti, Ll.;
Miura, M.;
Moriyama, S.;
Nakahata, M.;
Nakayama, S.;
Obayashi, Y.;
Sekiya, H.;
Shiozawa, M.;
Suzuki, Y.;
Takeda, A.;
Takenaga, Y.;
Ueno, K.;
Yokozawa, T.;
Kaji, H.;
Kajita, T.;
Kaneyuki, K.;
Lee, K. P.;
Okumura, K.;
[...]