> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: High-resolution stress mapping of polycrystalline alumina compression using synchrotron X-ray diffraction Beteiligte: Raghavan, Seetha; Imbrie, Peter Erschienen: International Union of Crystallography (IUCr), 2011 Erschienen in: Journal of Synchrotron Radiation Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1107/s0909049511009071 ISSN: 0909-0495 Schlagwörter: Instrumentation ; Nuclear and High Energy Physics ; Radiation Entstehung: Anmerkungen: