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Medientyp: E-Artikel Titel: I/sub DDQ/ test and diagnosis of CMOS circuits Beteiligte: Isern, E.; Figueras, J. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1995 Erschienen in: IEEE Design & Test of Computers, 12 (1995) 4, Seite 60-67 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/54.491239 ISSN: 0740-7475 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Hardware and Architecture ; Software ; Electrical and Electronic Engineering ; Hardware and Architecture ; Software Entstehung: Anmerkungen: