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Medientyp: E-Artikel Titel: More goodness-of-fit tests for the power-law process Beteiligte: Park, W.J.; Seoh, M. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1994 Erschienen in: IEEE Transactions on Reliability Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/24.295010 ISSN: 0018-9529 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Safety, Risk, Reliability and Quality Entstehung: Anmerkungen: