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Medientyp: E-Artikel Titel: Contour matching using epipolar geometry Beteiligte: Joon Hee Han; Jong Seung Park Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2000 Erschienen in: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/34.845378 ISSN: 0162-8828 Schlagwörter: Applied Mathematics ; Artificial Intelligence ; Computational Theory and Mathematics ; Computer Vision and Pattern Recognition ; Software Entstehung: Anmerkungen: