> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: Dielectric loss and current—Voltage measurements in sodium-contaminated Si—SiO2—Cr structures Beteiligte: Kriegler, R.J.; Bartnikas, R. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1973 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 20 (1973) 8, Seite 722-731 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/t-ed.1973.17734 ISSN: 0018-9383 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: