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Medientyp: E-Artikel Titel: USER-SMILE: Ultrafast Stimulus Error Removal and Segmented Model Identification of Linearity Errors for ADC Built-in Self-Test Beteiligte: Chen, Tao; Jin, Xiankun; Geiger, Randall L.; Chen, Degang Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018 Erschienen in: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tcsi.2017.2775632 ISSN: 1558-0806; 1549-8328 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering Entstehung: Anmerkungen: