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Medientyp: E-Artikel Titel: At-Speed Distributed Functional Testing to Detect Logic and Delay Faults in NoCs Beteiligte: Kakoee, Mohammad Reza; Bertacco, Valeria; Benini, Luca Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014 Erschienen in: IEEE Transactions on Computers Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tc.2013.202 ISSN: 0018-9340 Entstehung: Anmerkungen: