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Medientyp: E-Artikel Titel: Prebreakdown Evolution of Field Emission-Induced Breakdown Under Impulse Voltage Beteiligte: Li, Shimin; Jiang, Xixi; Zhang, Chaohai Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024 Erschienen in: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, 31 (2024) 1, Seite 222-229 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tdei.2023.3318211 ISSN: 1070-9878; 1558-4135 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering Entstehung: Anmerkungen: