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Medientyp: E-Artikel Titel: On the Surface-Roughness Scattering in Biaxially Strained n- and p-MOS Transistors Beteiligte: De Michielis, Marco; Conzatti, Francesco; Esseni, David; Selmi, Luca Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices, 58 (2011) 9, Seite 3219-3223 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/ted.2011.2158606 ISSN: 0018-9383; 1557-9646 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: