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Medientyp: E-Artikel Titel: Threshold-Voltage Instability Due to Damage Recovery in Nanoscale NAND Flash Memories Beteiligte: Miccoli, Carmine; Monzio Compagnoni, Christian; Beltrami, Silvia; Spinelli, Alessandro S.; Visconti, Angelo Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Transactions on Electron Devices Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/ted.2011.2150751 ISSN: 0018-9383; 1557-9646 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Electronic, Optical and Magnetic Materials Entstehung: Anmerkungen: