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Medientyp: E-Artikel Titel: An improved automatic test system for VLSI parametric testing Beteiligte: Fang, Robert C. Y.; Rung, Robert D.; Cham, Kit M. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1982 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tim.1982.6312558 ISSN: 0018-9456; 1557-9662 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation Entstehung: Anmerkungen: