• Medientyp: E-Artikel
  • Titel: An improved automatic test system for VLSI parametric testing
  • Beteiligte: Fang, Robert C. Y.; Rung, Robert D.; Cham, Kit M.
  • Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1982
  • Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
  • Sprache: Nicht zu entscheiden
  • DOI: 10.1109/tim.1982.6312558
  • ISSN: 0018-9456; 1557-9662
  • Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation
  • Entstehung:
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