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Medientyp: E-Artikel Titel: An Automated Test System for MNOS Transistor Characterization Beteiligte: Kwan, Sze-Hon; Cham, Kit M.; Wegener, H. A. Richard Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 1983 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tim.1983.4315119 ISSN: 0018-9456 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation Entstehung: Anmerkungen: