> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: Testing High-Resolution ADCs With Low-Resolution/Accuracy Deterministic Dynamic Element Matched DACs Beteiligte: Jiang, Hanjun; Olleta, Beatriz; Chen, Degang; Geiger, Randall L. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2007 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tim.2007.903621 ISSN: 0018-9456 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation Entstehung: Anmerkungen: