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Medientyp: E-Artikel Titel: High-Resolution ADC Linearity Testing Using a Fully Digital-Compatible BIST Strategy Beteiligte: Xing, Hanqing; Jiang, Hanjun; Chen, Degang; Geiger, Randall L. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tim.2009.2015703 ISSN: 0018-9456 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Instrumentation Entstehung: Anmerkungen: