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Medientyp: E-Artikel Titel: Broadband Characterization of Materials Using a Dual-Ridged Waveguide Beteiligte: Hyde, Milo W.; Havrilla, Michael J.; Bogle, Andrew E.; Lehman, Nathan J. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013 Erschienen in: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 62 (2013) 12, Seite 3168-3176 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tim.2013.2270050 ISSN: 0018-9456; 1557-9662 Entstehung: Anmerkungen: