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Medientyp: E-Artikel Titel: DefSim: A Remote Laboratory for Studying Physical Defects in CMOS Digital Circuits Beteiligte: Pleskacz, Witold A.; Stopjakova, Viera; Borejko, Tomasz; Jutman, Artur Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2008 Erschienen in: IEEE Transactions on Industrial Electronics Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tie.2008.920581 ISSN: 0278-0046; 1557-9948 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Control and Systems Engineering Entstehung: Anmerkungen: