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Medientyp: E-Artikel Titel: Effects of Total Ionizing Dose on the Retention of 41-nm NAND Flash Cells Beteiligte: Bagatin, Marta; Gerardin, Simone; Paccagnella, Alessandro; Visconti, Angelo; Beltrami, Silvia; Bertuccio, Massimo; Czeppel, Laura T. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2011 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2011.2171505 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Nuclear Energy and Engineering ; Nuclear and High Energy Physics Entstehung: Anmerkungen: