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Medientyp: E-Artikel Titel: X-Ray Silicon Drift Detector–CMOS Front-End System with High Energy Resolution at Room Temperature Beteiligte: Bertuccio, G.; Ahangarianabhari, M.; Graziani, C.; Macera, D.; Shi, Y.; Gandola, M.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Bellutti, P.; Giacomini, G.; Picciotto, A.; Piemonte, C.; Zorzi, N. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2016 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science, 63 (2016) 1, Seite 400-406 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2015.2513602 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Entstehung: Anmerkungen: