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Medientyp: E-Artikel Titel: Estimation of the Single-Event Upset Sensitivity of Advanced SOI SRAMs Beteiligte: Raine, M.; Gaillardin, M.; Lagutere, T.; Duhamel, O.; Paillet, P. Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2017.2779786 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Nuclear Energy and Engineering ; Nuclear and High Energy Physics Entstehung: Anmerkungen: