> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: A Body-Biasing Technique for Single-Event Transient Mitigation in 28-nm Bulk CMOS Process Beteiligte: Liu, Jingtian; Liang, Bin; Guo, Yang; Chen, Jianjun; Chi, Yaqing; Sun, Qian; Song, Shengyu; Yuan, Hengzhou Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2021 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2021.3123335 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Entstehung: Anmerkungen: