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Medientyp: E-Artikel Titel: Tensor Processing Unit Reliability Dependence on Temperature and Radiation Source Beteiligte: Bodmann, Pablo R.; Rech, Paolo Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2024 Erschienen in: IEEE Transactions on Nuclear Science, 71 (2024) 4, Seite 854-860 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tns.2024.3359524 ISSN: 0018-9499; 1558-1578 Entstehung: Anmerkungen: