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Medientyp: E-Artikel Titel: A Deeper Look into DeepCap Beteiligte: Habermann, Marc; Xu, Weipeng; Zollhoefer, Michael; Pons-Moll, Gerard; Theobalt, Christian Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2021 Erschienen in: IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence (2021), Seite 1-1 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/tpami.2021.3093553 ISSN: 0162-8828; 2160-9292; 1939-3539 Schlagwörter: Applied Mathematics ; Artificial Intelligence ; Computational Theory and Mathematics ; Computer Vision and Pattern Recognition ; Software Entstehung: Anmerkungen: