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Medientyp: E-Artikel Titel: Reliability Demonstration Through Degradation Bogey Testing Beteiligte: Guangbin Yang Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2009 Erschienen in: IEEE Transactions on Reliability, 58 (2009) 4, Seite 604-610 Sprache: Ohne Angabe DOI: 10.1109/tr.2009.2033733 ISSN: 0018-9529; 1558-1721 Entstehung: Anmerkungen: