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Medientyp: E-Artikel Titel: Temperature-Dependent Narrow Width Effects of 28-nm CMOS Transistors for Cold Electronics Beteiligte: Tsai, Ting; Lin, Horng-Chih; Li, Pei-Wen Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2022 Erschienen in: IEEE Journal of the Electron Devices Society Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/jeds.2022.3163251 ISSN: 2168-6734 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Electronic, Optical and Magnetic Materials ; Biotechnology Entstehung: Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang