> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: Stability Characterization of High-Sensitivity Silicon-Based EUV Photodiodes in a Detrimental Environment Beteiligte: Shi, Lei; Nihtianov, Stoyan; Nanver, Lis K.; Scholze, Frank Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2013 Erschienen in: IEEE Sensors Journal, 13 (2013) 5, Seite 1699-1707 Sprache: Ohne Angabe DOI: 10.1109/jsen.2012.2235142 ISSN: 1530-437X; 1558-1748 Entstehung: Anmerkungen: