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Medientyp: E-Artikel Titel: Characterization and Modeling of Breakdown Probability in Sub-Micrometer CMOS SPADs Beteiligte: Pancheri, Lucio; Stoppa, David; Dalla Betta, Gian-Franco Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2014 Erschienen in: IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, 20 (2014) 6, Seite 328-335 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/jstqe.2014.2327791 ISSN: 1077-260X; 1558-4542 Schlagwörter: Electrical and Electronic Engineering ; Atomic and Molecular Physics, and Optics Entstehung: Anmerkungen: