Kwapil, Wolfram;
Schon, Jonas;
Niewelt, Tim;
Schubert, Martin C.
Temporary Recovery of the Defect Responsible for Light- and Elevated Temperature-Induced Degradation: Insights Into the Physical Mechanisms Behind LeTID
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Medientyp:
E-Artikel
Titel:
Temporary Recovery of the Defect Responsible for Light- and Elevated Temperature-Induced Degradation: Insights Into the Physical Mechanisms Behind LeTID
Beteiligte:
Kwapil, Wolfram;
Schon, Jonas;
Niewelt, Tim;
Schubert, Martin C.
Erschienen:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2020
Erschienen in:
IEEE Journal of Photovoltaics, 10 (2020) 6, Seite 1591-1603