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Medientyp: E-Artikel Titel: One-Shot Learning for Robust Material Classification Using Millimeter-Wave Radar System Beteiligte: Weis, Jonas; Santra, Avik Erschienen: Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2018 Erschienen in: IEEE Sensors Letters, 2 (2018) 4, Seite 1-4 Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1109/lsens.2018.2878041 ISSN: 2475-1472 Entstehung: Anmerkungen: