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Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: Diode laser testing by taking advantage of its photoelectric properties Beteiligte: Tomm, Jens W.; Gerhardt, A.; Lorenzen, Dirk; Henning, P.; Roehle, H. Erschienen: SPIE, 2002 Erschienen in: SPIE Proceedings Umfang: Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1117/12.462652 ISSN: 0277-786X Entstehung: Anmerkungen: