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Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: Microreflectance inspection of diode laser front facets Beteiligte: Doerfel, Fabian; Nerreter, Stefan; Tomm, Jens W.; Grunwald, Ruediger; Kunkel, R.; Luft, Johann Erschienen: SPIE, 2002 Erschienen in: SPIE Proceedings, 4648 (2002), Seite 48-54 Umfang: 48-54 Sprache: Ohne Angabe DOI: 10.1117/12.462659 ISSN: 0277-786X Entstehung: Anmerkungen: