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Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: A comprehensive reliability study of high-power 808 nm laser diodes mounted with AuSn and indium Beteiligte: Kissel, Heiko; Seibold, Gabriele; Biesenbach, Jens; Groenninger, Guenther; Herrmann, Gerhard; Strauß, Uwe Erschienen: SPIE, 2008 Erschienen in: SPIE Proceedings Umfang: Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1117/12.762586 ISSN: 0277-786X Entstehung: Anmerkungen: