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Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: Development of metrology for freeform optics in reflection mode Beteiligte: Burada, Dali R.; Pant, Kamal K.; Mishra, Vinod; Bichra, Mohamed; Khan, Gufran S.; Sinzinger, Stefan; Shakher, Chandra Erschienen: SPIE, 2017 Erschienen in: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X (2017) Umfang: Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1117/12.2270284 ISSN: 0277-786X Entstehung: Anmerkungen: