> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: Elektronischer Konferenzbericht Titel: Test structures for characterization and comparative analysis of CMOS image sensors Beteiligte: Yang, David X. D.; Min, Hao; Fowler, Boyd A.; El Gamal, Abbas; Beiley, Mark; Cham, Kit M. Erschienen: SPIE, 1996 Erschienen in: Advanced Focal Plane Arrays and Electronic Cameras Umfang: Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.1117/12.262523 ISSN: 0277-786X Entstehung: Anmerkungen: