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Medientyp: E-Artikel Titel: Identifiability of Semiconductor Defects from LBIC Images Beteiligte: Fang, Weifu; Ito, Kazufumi Erschienen: Society for Industrial & Applied Mathematics (SIAM), 1992 Erschienen in: SIAM Journal on Applied Mathematics Sprache: Englisch DOI: 10.1137/0152093 ISSN: 0036-1399; 1095-712X Schlagwörter: Applied Mathematics Entstehung: Anmerkungen: