> Merkliste Sie können Bookmarks mittels Listen verwalten, loggen Sie sich dafür bitte in Ihr SLUB Benutzerkonto ein.
Medientyp: E-Artikel Titel: Characterization of semiconductor materials using synchrotron radiation-based near-field infrared microscopy and nano-FTIR spectroscopy Beteiligte: Hermann, Peter; Hoehl, Arne; Ulrich, Georg; Fleischmann, Claudia; Hermelink, Antje; Kästner, Bernd; Patoka, Piotr; Hornemann, Andrea; Beckhoff, Burkhard; Rühl, Eckart; Ulm, Gerhard Erschienen: The Optical Society, 2014 Erschienen in: Optics Express, 22 (2014) 15, Seite 17948 Sprache: Englisch DOI: 10.1364/oe.22.017948 ISSN: 1094-4087 Entstehung: Anmerkungen: Zugangsstatus: Freier Zugang