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Medientyp: E-Artikel Titel: Temperature Profiles Induced by Recrystallization of Silicon-on-Insulator with Scanning Incoherent Light Line Source Beteiligte: Richter, H.H.; Andrä, H.; Tillack, Bernd; Joachim, O.; Weinelt, W.; Banisch, R.; Hoeppner, K. Erschienen: Trans Tech Publications, Ltd., 1991 Erschienen in: Solid State Phenomena Sprache: Nicht zu entscheiden DOI: 10.4028/www.scientific.net/ssp.19-20.631 ISSN: 1662-9779 Schlagwörter: Condensed Matter Physics ; General Materials Science ; Atomic and Molecular Physics, and Optics Entstehung: Anmerkungen: