Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings

Medientyp: E-Book; Konferenzbericht
Titel: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, SSPR 2006 and SPR 2006, Hong Kong, China, August 17-19, 2006, Proceedings
Beteiligte: Yeung, Dit-Yan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; de Ridder, Dick [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Fred, Ana [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Kwok, James T. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Roli, Fabio [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]
Erschienen: Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2006
Erschienen in: Lecture notes in computer science ; 4109
Bücher
Umfang: Online-Ressource (XXI, 939 p. Also available online, digital)
Sprache: Englisch
DOI: 10.1007/11815921
ISBN: 9783540372417
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