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  12. Materlik, Robin [VerfasserIn] ; Mikolajick, Thomas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Kersch, Alfred [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Stabilization of Ferroelectricity in Hafnia, Zirconia and their Mixtures by Dopants and Interface Energy

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    Dresden: Technische Universität Dresden, 2019

  13. Franke, Dennis [VerfasserIn] ; Frauenheim, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Frauenheim, Thomas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Jahnke, Frank [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Theoretical investigations of wide-bandgap semiconductor nanowires for optoelectronic applications

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    Bremen: Staats- und Universitätsbibliothek Bremen, 2019

  14. Hildebrandt, Erwin Matti [VerfasserIn] ; Alff, Lambert [AkademischeR BetreuerIn]; Schröder, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Donner, Wolfgang [AkademischeR BetreuerIn]; Ensinger, Wolfgang [AkademischeR BetreuerIn]

    Oxygen Engineered Hafnium Oxide Thin Films grown by Reactive Molecular Beam Epitaxy

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    Darmstadt: Universitäts- und Landesbibliothek Darmstadt, 2012

  15. Sowinska, Malgorzata [VerfasserIn] ; Schröder, Thomas [AkademischeR BetreuerIn]; Fröhlich, Karol [AkademischeR BetreuerIn]; Alff, Lambert [AkademischeR BetreuerIn]

    In-operando hard X-ray photoelectron spectroscopy study on the resistive switching physics of HfO2-based RRAM

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    Cottbus: BTU Cottbus - Senftenberg, 2014

  16. Islamov, Damir R. [VerfasserIn]; Gritsenkoa, Vladimir A. [VerfasserIn]; Perevalov, Timofey V. [VerfasserIn]; Pustovarov, Vladimir A. [VerfasserIn]; Orlov, Oleg M. [VerfasserIn]; Chernikova, Anna G. [VerfasserIn]; Markeev, Andrey M. [VerfasserIn]; Slesazeck, Stefan [VerfasserIn]; Schröder, Uwe [VerfasserIn]; Mikolajick, Thomas [VerfasserIn]; Krasnikov, Gennadiy Ya. [VerfasserIn]

    Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf₀.₅Zr₀.₅O₂-based ferroelectric thin films

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    Amsterdam : Elsevier, [2022]

  17. Nadimi, Ebrahim [VerfasserIn] ; Schreiber, Michael [AkademischeR BetreuerIn]; Schreiber, Michael [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Frauenheim, Thomas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

    Theoretical Investigation of High-k Gate Stacks in nano-MOSFETs

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    Chemnitz: Technische Universität Chemnitz, 2022

  18. Buragohain, Pratyush [VerfasserIn]; Erickson, Adam [VerfasserIn]; Kariuki, Pamenas [VerfasserIn]; Mittmann, Terence [VerfasserIn]; Richter, Claudia [VerfasserIn]; Lomenzo, Patrick D. [VerfasserIn]; Lu, Haidong [VerfasserIn]; Schenk, Tony [VerfasserIn]; Mikolajick, Thomas [VerfasserIn]; Schroeder, Uwe [VerfasserIn]; Gruverman, Alexei [VerfasserIn]

    Fluid Imprint and Inertial Switching in Ferroelectric La:HfO2 Capacitors

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    Washington, DC : ACS Publications, [2022]

  19. Pešić, Milan [VerfasserIn]; Schroeder, Uwe [VerfasserIn]; Slesazeck, Stefan [VerfasserIn]; Mikolajick, Thomas [VerfasserIn]

    Comparative Study of Reliability of Ferroelectric and Anti-Ferroelectric Memories

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    New York : IEEE, [2021]

  20. Pietranik, A. [VerfasserIn]; Storey, C. [VerfasserIn]; Koepke, Jürgen [VerfasserIn]; Lasalle, S. [VerfasserIn]

    Zircon record of fractionation, hydrous partial melting and thermal gradients at different depths in oceanic crust (ODP Site 735B, South-West Indian Ocean) - [published Version]

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    Heidelberg : Springer Verlag, 2017

    Erschienen in: Contributions to Mineralogy and Petrology 172 (2017)