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Amelinckx, Severin [HerausgeberIn]

Handbook of microscopy : applications in materials science, solid-state physics and chemistry

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Weinheim [u.a.]: VCH, 1997-
Spence, John C. H. [VerfasserIn]

Experimental high-resolution electron microscopy - [2. ed.]

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New York [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1988

Erschienen in: Monographs on the physics and chemistry of materials
Buseck, Peter R. [HerausgeberIn]; Cowley, J. M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Eyring, Leroy [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

High-resolution transmission electron microscopy and associated techniques

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New York, NY [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1988
Zhang, Xiao-Feng [HerausgeberIn]

Progress in transmission electron microscopy

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 19XX- ; [Beijing]: Tsinghua Univ. Pr., 19XX-

Erschienen in: Springer series in surface sciences ; .
Lenz, Sabine [VerfasserIn]; Thaler, Marlene [VerfasserIn] ; Linnemann, Alexander [HerausgeberIn]; Kühl, Susanne [HerausgeberIn]; Ilsinger, Bert [MitwirkendeR] Uni-Taschenbücher GmbH

Grundlagen der Licht- und Elektronenmikroskopie

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Stuttgart: UTB, [2018]

Erschienen in: UTB ; 4864 ; Biologie ; Medizin ; Molekularbiologie ; Ernährungs-/Lebensmittelwissenschaften
Goodhew, Peter J. [VerfasserIn]; Beeston, B. E. P. [VerfasserIn]; Horne, Robert W. [VerfasserIn] ; Markham, Roy [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Specimen preparation in materials science - [1. ed., 2. print.]

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Amsterdam: North-Holland, 1974

Erschienen in: Practical methods in electron microscopy ; 1,2
Egerton, Ray [VerfasserIn]

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM - [Second edition]

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[Cham]: Springer Interantional Publishing, [2016]
Colliex, Christian [VerfasserIn] ; Kohl, Helmut [BearbeiterIn]

Elektronenmikroskopie : eine anwendungsbezogene Einführung

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Stuttgart: Wiss. Verl.-Ges., c 2008
Stokes, Debbie J. [VerfasserIn]

Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)

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Chichester: Wiley, 2008
Egerton, Ray [VerfasserIn]

Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM and AEM - [Nachdr.]

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New York, NY: Springer, 2007
Goodhew, Peter J. [VerfasserIn] ; Humphreys, F. J. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Beanland, Richard [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Electron microscopy and analysis - [3. ed.]

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London [u.a.]: Taylor & Francis, 2001
Hayat, M. A. [HerausgeberIn]

Principles and techniques of electron microscopy : biological applications - [4. ed.]

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Cambridge, UK; New York: Cambridge University Press, c 2000
Reimer, Ludwig [VerfasserIn]

Scanning electron microscopy : physics of image formation and microanalysis - [2., completely rev. and updated ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1998

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 45.1998
Eckert, Richard [VerfasserIn]

Sehen heißt wissen : das Rasterelektronenmikroskop im Fehleranalyselabor - [1. Aufl.]

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Stuttgart: Kurz, 1998
Alexander, Helmut [VerfasserIn]

Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie

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Stuttgart: Teubner, 1997

Erschienen in: Teubner Studienbücher ; Angewandte Physik
Watt, Ian M. [VerfasserIn]

The principles and practice of electron microscopy - [2. ed]

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Cambridge [u.a.]: Cambridge University Press, 1997
Reimer, Ludwig [VerfasserIn]

Transmission electron microscopy : physics of image formation and microanalysis - [4. ed.]

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1997

Erschienen in: Springer series in optical sciences ; 36.1997
Flegler, Stanley L. [VerfasserIn]; Heckman, John W. [VerfasserIn]; Klomparens, Karen L. [VerfasserIn]

Elektronenmikroskopie : Grundlagen, Methoden, Anwendungen

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Heidelberg; Berlin [u.a.]: Spektrum, Akad. Verl., 1995
Flegler, Stanley L. [VerfasserIn]; Heckman, John W. [VerfasserIn]; Klomparens, Karen L. [VerfasserIn] ; Heckman, John William [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Scanning and transmission electron microscopy : an introduction

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New York: Freeman, 1993
Grasenick, Fritz [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Elektronenmikroskopie : erweiterte Einsatzmöglichkeiten durch neue Entwicklungen und spezielle Abbildungs- und Präparationsmethoden

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Ehningen bei Böblingen: expert-Verl., 1991

Erschienen in: Kontakt & Studium ; 112

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