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Pearton, Stephen J. [VerfasserIn]; Corbett, James W. [VerfasserIn]; Stavola, Michael [VerfasserIn]

Hydrogen in crystalline semiconductors

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1992

Erschienen in: Springer series in materials science ; 16
Bristowe, Paul D. [HerausgeberIn]

Defects in materials : symposium

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Pittsburgh, Pa.: Materials Research Soc., 1991

Erschienen in: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 20900
Kaufmann, Berthold [VerfasserIn]

Elektron-Phonon-Kopplung an tiefen Zentren in Verbindungshalbleitern

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Frankfurt am Main: Verl. Neue Wiss., 1997
Cheung, Kin P. [VerfasserIn]

Plasma charging damage

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London; Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, c 2001
Hanbücken, Margrit [HerausgeberIn]; Müller, Pierre [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Wehrspohn, Ralf B. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Mechanical stress on the nanoscale : simulation, material systems and characterization techniques

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Weinheim: Wiley-VCH, 2011
Pichler, Peter [VerfasserIn]

Intrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon

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Wien; New York: Springer, 2004

Erschienen in: Computational microelectronics
Novak, Richard E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Electrochemical Society Electronics Division, Electrochemical Society Dielectric Science and Technology Division, Symposium on Contamination Control and Defect Reduction in Semiconductor Manufacturing 2 1993 Honolulu, Hawaii

Proceedings of the Symposium on Contamination Control and Defect Reduction in Semiconductor Manufacturing II : [held at the Electrochemical Spring Meeting May 16-22, 1993, Honolulu, Hawaii]

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Pennington, NJ: Electrochemical Society, c1994

Erschienen in: Electrochemical Society: Proceedings volume ; 19940300
Wolford, Donald J. [HerausgeberIn]; Bernholc, Jerzy [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Haller, Eugene E. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; Thomas J. Watson Research Center, Symposium Impurities, Defects and Diffusion in Semiconductors 1989 Boston, Mass

Impurities, defects and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures ; symposium held November 27 - December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A.

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Pittsburgh, Pa.: Materials Research Society, 1990

Erschienen in: Materials Research Society: Materials Research Society symposium proceedings ; 16300
Turcu, Mircea Cassian [VerfasserIn]

Defect energies, band alignments, and charge carrier recombination in polycrystalline Cu(In,Ga)(Se,S)2 alloys

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Aachen: Shaker, 2004

Erschienen in: Berichte aus der Physik
Fleetwood, Daniel M. [VerfasserIn] ; Pantelides, Sokrates T. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schrimpf, Ronald D. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Pantelides, Sokrates [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Schrimpf, Ronald Donald [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Defects in microelectronic materials and devices

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Boca Raton, Fla. [u.a.]: CRC Press, 2009
Harman, George G. [VerfasserIn]

Wire bonding in microelectronics - [3. ed. fully updated]

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New York, NY [u.a.]: McGraw-Hill, 2010
Stoneham, Arthur M. [VerfasserIn]

Theory of defects in solids : electronic structure of defects in insulators and semiconductors

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Oxford: Clarendon Press, 2001

Erschienen in: Oxford classic texts in the physical sciences
Kozlovski, Vitali V. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Radiation defect engineering

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New Jersey: World Scientific, 2005

Erschienen in: Selected topics in electronics and systems ; 37
Goel, Ashok K. [VerfasserIn]

High-speed VLSI interconnections - [2nd ed.]

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Hoboken, N.J.: Wiley-Interscience, 2007

Erschienen in: Wiley series in microwave and optical engineering
Catlow, Charles R. [HerausgeberIn]; Catlow, Charles R. A. [HerausgeberIn] ; Royal Society London

New methods for modelling processes within solids and at their surfaces

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Oxford [u.a.]: Oxford Univ. Press, 1993

Erschienen in: Oxford science publications
Harman, George G. [VerfasserIn]

Wire bonding in microelectronics : materials, processes, reliability, and yield - [2. ed.]

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New York, NY [u.a.]: McGraw-Hill, 1997

Erschienen in: Electronic packaging and interconnection series
Identification of defects in semiconductors / A

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San Diego: Acad. Press, 1998

Erschienen in: Identification of defects in semiconductors / vol. ed.: Michael Stavola ; A - Semiconductors and semimetals ; 51,A
Lannoo, Michel [VerfasserIn]; Bourgoin, Jacques [VerfasserIn]

Point defects in semiconductors

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Berlin; Heidelberg; New York: Springer, 1981-1983

Erschienen in: Springer series in solid-state sciences ; .
Stavola, Michael [HerausgeberIn]

Identification of defects in semiconductors

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San Diego [u.a.]: Acad. Press, 1998-1999

Erschienen in: Semiconductors and semimetals ; 51
Kittler, Martin [HerausgeberIn] ; BIADS 5 1998 Wulkow, Trebnitz

Beam injection assessment of defects in semiconductors : proceedings of the 5th International Workshop on Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors (BIADS 98), held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August 30 - September 3, 1998

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Uetikon-Zuerich: Scitec Publ., 1998

Erschienen in: Diffusion and defect data ; B, Solid state phenomena ; 63/64

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