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  2. Jambreck, Joachim Dietmar [Verfasser:in] ; Frey, Lothar [Akademische:r Betreuer:in]

    Entwicklung und Herstellung von neuartigen Sonden für die elektrische und optische Rastersondenmikroskopie

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    Erlangen: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2015

  3. Wang, Lin [Verfasser:in]

    Carrier profiling of ZnO nanowire structures by scanning capacitance microscopy and scanning spreading resistance microscopy ; Profilage porteur de structures de nanofils ZnO par microscopie à capacité de balayage et microscopie à dispersion

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    [Erscheinungsort nicht ermittelbar]: HAL CCSD, 2016

  9. Humer, I.; Bethge, O.; Bodnarchuk, M.; Kovalenko, M.; Yarema, M.; Heiss, W.; Huber, H. P.; Hochleitner, M.; Hinterdorfer, P.; Kienberger, F.; Smoliner, J.

    Scanning microwave microscopy and scanning capacitance microscopy on colloidal nanocrystals

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    AIP Publishing, 2011

    Erschienen in: Journal of Applied Physics, 109 (2011) 6

  11. Murray, Hugues; Germanicus, Rosine; Doukkali, Aziz; Martin, Patrick; Domenges, Bernadette; Descamps, Philippe

    Analytic description of scanning capacitance microscopy

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    American Vacuum Society, 2007

    Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena, 25 (2007) 4, Seite 1340-1352

  17. Zavyalov, V. V.; McMurray, J. S.; Williams, C. C.

    Noise in scanning capacitance microscopy measurements

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    American Vacuum Society, 2000

    Erschienen in: Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena, 18 (2000) 3, Seite 1125-1133