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  1. Reiter, Sina [Verfasser:in]; Koper, Nico [Verfasser:in]; Reineke-Koch, Rolf [Verfasser:in]; Larionova, Yevgeniya [Verfasser:in]; Turcu, Mircea [Verfasser:in]; Krügener, Jan [Verfasser:in]; Tetzlaff, Dominic [Verfasser:in]; Wietler, Tobias [Verfasser:in]; Höhne, Uwe [Verfasser:in]; Kähler, Jan-Dirk [Verfasser:in]; Brendel, Rolf [Verfasser:in]; Peibst, Robby [Verfasser:in]

    Parasitic Absorption in Polycrystalline Si-layers for Carrier-selective Front Junctions

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    London : Elsevier Ltd., 2016

    Erschienen in: Energy Procedia 92 (2016)

  2. Tetzlaff, Dominic [Verfasser:in]; Dzinnik, Marvin [Verfasser:in]; Krügener, Jan [Verfasser:in]; Larionova, Yevgeniya [Verfasser:in]; Reiter, Sina [Verfasser:in]; Turcu, Mircea [Verfasser:in]; Peibst, Robby [Verfasser:in]; Höhne, Uwe [Verfasser:in]; Kähler, Jan-Dirk [Verfasser:in]; Wietler, Tobias F. [Verfasser:in]

    Introducing pinhole magnification by selective etching: Application to poly-Si on ultra-thin silicon oxide films - [published Version]

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    Amsterdam : Elsevier, 2017

    Erschienen in: Energy Procedia 124 (2017)

  7. Abo, S.; Yamagiwa, H.; Tanaka, K.; Wakaya, F.; Sakamoto, T.; Tokioka, H.; Nakagawa, N.; Takai, M.

    Local resistance measurement on polycrystalline silicon layer in low-temperature poly-Si thin film transistor using scanning spreading resistance microscopy

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    AIP, 2006

    Erschienen in: AIP Conference Proceedings (2006)

  8. Park, Jungmin; Choi, Pyungho; Kim, Soonkon; Jeon, Bohyeon; Lee, Jongyoon; Choi, Byoungdeog

    Effect of PECVD Gate SiO2 Thickness on the Poly-Si/SiO2 Interface in Low-Temperature Polycrystalline Silicon TFTs

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    Springer Science and Business Media LLC, 2021

    Erschienen in: Journal of Electrical Engineering & Technology, 16 (2021) 2, Seite 1027-1033

  10. Chen, Bo-Wei; Chang, Ting-Chang; Chang, Kuan-Chang; Hung, Yu-Ju; Huang, Shin-Ping; Chen, Hua-Mao; Liao, Po-Yung; Lin, Yu-Ho; Huang, Hui-Chun; Chiang, Hsiao-Cheng; Yang, Chung-I; Zheng, Yu-Zhe; Chu, Ann-Kuo; Li, Hung-Wei; Tsai, Chih-Hung; Lu, Hsueh-Hsing; Wang, Terry Tai-Jui; Chang, Tsu-Chiang

    Surface Engineering of Polycrystalline Silicon for Long-Term Mechanical Stress Endurance Enhancement in Flexible Low-Temperature Poly-Si Thin-Film Transistors

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    American Chemical Society (ACS), 2017

    Erschienen in: ACS Applied Materials & Interfaces, 9 (2017) 13, Seite 11942-11949

  11. Schönau, S.; Rappich, J.; Weizman, M.; Amkreutz, D.; Rech, B.

    Photoluminescence study of polycrystalline silicon thin films prepared by liquid and solid phase crystallization : PL study of poly-Si thin films : PL study of poly-Si thin films

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    Wiley, 2013

    Erschienen in: physica status solidi (a), 210 (2013) 8, Seite 1652-1656