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Benninghoven, Alfred [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; SIMS 7 1989 Monterey, Calif

Secondary ion mass spectrometry / 7, Hyatt Regency Hotel, Monterey, Calif., USA, September 3rd - 8th, 1989 / eds.: A. Benninghoven

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1990

Erschienen in: Secondary ion mass spectrometry ; 1990,7
Briggs, David [VerfasserIn]; Brown, Alan [VerfasserIn]; Vickerman, John C. [VerfasserIn]

Handbook of static secondary ion mass spectrometry

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Chichester [u.a.]: Wiley, 1989
Wilson, Robert G. [VerfasserIn]; Stevie, Fred A. [VerfasserIn]; Magee, Charles W. [VerfasserIn]

Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis

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New York [u.a.]: Wiley, 1989

Erschienen in: A Wiley-Interscience publication
Vickerman, John C. [HerausgeberIn]

Secondary ion mass spectrometry : principles and applications

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Oxford [u.a.]: Clarendon Press, 1989

Erschienen in: International series of monographs on chemistry ; 1700
Benninghoven, Alfred [VerfasserIn]; Rüdenauer, F. G. [VerfasserIn]; Werner, H. W. [VerfasserIn]

Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

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New York, NY [u.a.]: Wiley, 1987

Erschienen in: Chemical analysis ; 86
Mahoney, Christine M. [HerausgeberIn]

Cluster secondary ion mass spectrometry : principles and applications

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Hoboken, NJ: Wiley, 2013

Erschienen in: Wiley series on mass spectrometry
Martín-Ramos, Pablo [HerausgeberIn]; Ramos Silva, Manuela [HerausgeberIn]

Lanthanide-based multifunctional materials : from OLEDs to SIMs

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Amsterdam, Netherlands; Oxford; Cambridge, MA: Elsevier, [2018]

Erschienen in: Micro & nano technologies series
Czanderna, Alvin W. [HerausgeberIn]; Hercules, David M. [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Ion spectroscopies for surface analysis

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New York [u.a.]: Plenum Press, 1991

Erschienen in: Methods of surface characterization ; 2
Grasserbauer, Manfred [VerfasserIn]; Dudek, Hans J. [VerfasserIn]; Ebel, Maria F. [VerfasserIn]

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS : mit 29 Tabellen

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Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1986
Benninghoven, Alfred [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; SIMS 6 1987 Versailles

Secondary ion mass spectrometry / 6, Palais des Congrès, Versailles, Paris, France, September 13-18th, 1987 / eds. A. Benninghoven

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1988

Erschienen in: Secondary ion mass spectrometry ; 1988,6
Benninghoven, Alfred [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; SIMS 5 1985 Washington, DC

Secondary ion mass spectrometry / 5, Washington, DC, Sept. 30 - Oct. 4, 1985 / ed.: A. Benninghoven

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1986

Erschienen in: Secondary ion mass spectrometry ; 5 - Springer series in chemical physics ; 44
Benninghoven, Alfred [Sonstige Person, Familie und Körperschaft] ; SIMS 3 1981 Budapest

Secondary ion mass spectrometry / 3, Technical Univ., Budapest, Hungary, Aug. 30-Sept. 5, 1981

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1982

Erschienen in: Secondary ion mass spectrometry ; 3 - Springer series in chemical physics ; 19
Benninghoven, Alfred [HerausgeberIn] ; SIMS 2 1979 Stanford, Calif

Secondary ion mass spectrometry / 2, Stanford, Calif., USA, Aug. 27 - 31, 1979 / ed.: A. Benninghoven

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1979

Erschienen in: Secondary ion mass spectrometry ; 2 - Springer series in chemical physics ; 9
SIMS

Secondary ion mass spectrometry : SIMS ; proceedings of the ... International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry

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Chichester: Wiley, 1979-1988 ; Berlin; Heidelberg [u.a.]: Springer, 1979-1986 / Nachgewiesen 2.1979 - 6.1988
Institut für Technische Physik Jülich

Quantitative analysis with electron microbes and secondary ion mass spectrometry : meeting held on Oct. 18.-20. 1972 at the Kernforschungsanlage Juelich, Germany

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Jülich, 1973

Erschienen in: Kernforschungsanlage Jülich: Berichte der Kernforschungsanlage Jülich / Conferences ; 8
Rahn, Johanna [VerfasserIn]; Hüger, Erwin [VerfasserIn]; Dörrer, Lars [VerfasserIn]; Ruprecht, Bernhard [VerfasserIn]; Heitjans, Paul [VerfasserIn]; Schmidt, Harald [VerfasserIn]

Li self-diffusion in lithium niobate single crystals at low temperatures - [published Version]

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Links

http://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/2202

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Cambridge : Royal Society of Chemistry, 2012

Erschienen in: Physical Chemistry Chemical Physics 14 (2012), Nr. 7
Veith, Lothar [VerfasserIn]

Optimization and application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for the detection of nanomaterials in tissue thin sections

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https://d-nb.info/1180026837/34

kostenfrei

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Siegen: Universitätsbibliothek der Universität Siegen, 2019
Sobol, Oded [VerfasserIn] ; Böllinghaus, Thomas [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Unger, Wolfgang [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]; Eliezer, Dan [Sonstige Person, Familie und Körperschaft]

Hydrogen assisted cracking and transport studied by ToF-SIMS and data fusion with HR-SEM

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https://d-nb.info/1156778573/34

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Berlin: Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), 2018

Erschienen in: BAM-Dissertationsreihe ; 160
Gebura-Vreja, Ingrid-Cristiana [VerfasserIn] ; Rizzoli, Silvio [AkademischeR BetreuerIn]; Jahn, Reinhard [AkademischeR BetreuerIn]; Schwappach, Blanche [AkademischeR BetreuerIn]

Non-Canonical Amino Acids as Minimal Tags for Investigating Protein Organization and Turnover

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https://d-nb.info/1081246820/34

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Göttingen: Niedersächsische Staats- und Universitätsbibliothek Göttingen, 2016
Wudarska, Alicja [VerfasserIn]; Słaby, Ewa [VerfasserIn]; Wiedenbeck, Michael [VerfasserIn]; Barnes, Jaime D. [VerfasserIn]; Bonifacie, Magali [VerfasserIn]; Sturchio, Neil C. [VerfasserIn]; Bardoux, Gérard [VerfasserIn]; Couffignal, Frédéric [VerfasserIn]; Glodny, Johannes [VerfasserIn]; Heraty, Linnea [VerfasserIn]; John, Timm [VerfasserIn]; Kusebauch, Christof [VerfasserIn]; Mayanna, Sathish [VerfasserIn]; Wilke, Franziska D. H. [VerfasserIn]; Deput, Ewa [VerfasserIn]; 2Institute of Geological Sciences Polish Academy of SciencesResearch Centre in Warsaw Twarda 51/55 Warsaw 00‐818 Poland [VerfasserIn]; 1GFZ German Research Centre for Geosciences Telegrafenberg Potsdam 14473 Germany [VerfasserIn]; 3Department of Geological Sciences University of Texas Austin TX 78712 USA [VerfasserIn]; 4Institut de Physique du Globe de Paris CNRS Université de Paris Paris F‐75005 France [VerfasserIn]; 6Department of Earth Sciences University of Delaware 255 Academy Street Newark DE 19716 USA [VerfasserIn]; 7Institut für Geologische Wissenschaften Freie Universität Berlin Malteserstrasse 74‐100 Berlin 12449 Germany [VerfasserIn]

Inter‐laboratory Characterisation of Apatite Reference Materials for Chlorine Isotope Analysis

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GEO-LEOe-docs (FID GEO), 2020-12-25

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